中国科学院长春光机所
长春新产业光电技术有限公司

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(超)低频噪声测试系统

 

       SLFN-2000是一款极具性价比的测试系统,包括低频噪声测试、(超)低频噪声测试、IV扫描以及瞬态响应功能。具有紧凑的结构,包括微型光学平台,低噪声电流放大器,频谱分析仪,与光学显微镜等;核心模块采用进口品牌,保证测试精准度,底噪可达到10-28A2/Hz;支持两端和三端测试,能够满足广泛测试要求。

       目前,SLFN-2000(超)低频噪声测试系统已应用于长春应化所、长春理工大学、南京大学、江南大学、河南师范大学,西南大学,厦门大学等科研单位与院校。


   
 

产品性能优势:

产品应用领域:  
 

可实现fA级别的I-V曲线扫描

1/f 噪声测试与分析

 
 

本底噪声10-28 A2/Hz或10-32 A2/Hz

RTN测试与特性分析

 
 

兼容二端与三端测试

DC电流测量(500fA)

 
 

极高性价比,集成探针台

量子效率与响应度分析

 
 

软件界面简洁,操作方便

光响应时间(500ns)

 
 

动态平均可视化,最高平均500次

可靠性无损检测

 
 

数据处理灵活,一键存储数据与图片

集成微型探针台 

 
   

IV、IT扫描

 
   

光电流、暗电流分析

 

   产品图片及参数

型号

SLFN-2000

偏置电压范围

±10

电流分辨率

<500fA 或 <1fA

频率范围

0.1Hz-100 KHz或0.01Hz-10Hz

信号输出范围

0.2 V、1 V、5 V、10 V

电流放大倍数

103-1011105-1013

系统本底噪声

10-28 A2/Hz(低频)或10-32 A2/Hz (超低频)

数据平均模式

RMS、Vector、Peak

参数页

       

   软件界面

 

   产品特征参数

I-V Curve Scanning

Photocurrent, dark current

Low frequency 1/f noise

Ultra-low frequency 1/f noise


 

 

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