|
|
|
|
|
迈克尔逊干涉仪 |
|
|
|
◆
简介 |
|
|
迈克尔逊干涉仪是1883年美国物理学家迈克尔逊(A.A.Michelson)和莫雷(E.W.Morley)合作设计出的研究光谱学和度量学的一种精密光学仪器，用它可以高度准确地测定微小长度及微小变化，利用它的原理制成的各种专用干涉仪器被广泛地应用于生产和科研领域。
本实验通过利用迈克尔逊干涉仪对干涉现象的观察及特定光波长的测定，让学生掌握迈克尔逊干涉仪的原理、调节和使用方法，理解等厚干涉的概念，同时学习测量波长和介质薄片
厚度的方法。 |
|
|
 |
|
实验装置 |
|
|
|
|
|
实验要点：
迈克尔逊干涉仪结构、原理及调节
观察等厚干涉现象、测量干涉长度
测量单色光波长
测量介质薄片厚度 |
|
 |
 |
|
迈克尔逊干涉仪光路图 |
干涉图样 |
|
|
|
|
◆
涉及课程 |
|
|
|
物理光学、激光器件、光学仪器、应用光学、工程光学。 |
|
|
|
◆
基本配置 |
|
|
|
名称 |
规格参数 |
|
激光器 |
可见光波长可任选（含电源） |
|
迈克尔逊干涉仪主机 |
平面反射镜M1、M2
分光板G1
补偿板G2 |
|
光检测器 |
接收屏 |
|
其他 |
导轨、挡光板、护目镜 |
|
|
|
|
◆
拓展实验 |
|
测定透明介质的折射率验
对气流的精密测量
对等离子体的测量 |
| |
|
|
◆
仪器用途 |
|
观察等倾干涉、等厚干涉、白光干涉现象
镀膜厚度的测量、空气折射率的测量
研究谱线的精细结构 |
| |
|
|
|
